隨著物位儀表在各行業的廣泛應用，物位儀表在測量過程中也遇到很多影響因素，今天來總結分享一下有哪些影響因素：
1、對于過溢掩護，可定義一個相應距離值即盲區。
2、測量范圍與天線有關，不同規格天線精度有所不同。
3、測量范圍從波束涉及罐低的那一點開始算起，但在特別狀況下，若罐低為凹型或錐形，當液位低于此點時將無法進行測量。
4、如果介質介電常數較小時，當處于低液位時，罐底可見，為保障測量精度，倡議將零點調整。
5、隨濃度不同，泡沫既能夠吸收微波，又能夠將其反射，但在正常條件下是能夠進行測量的。
6、理論上測量到達天線尖端是能夠實現的，考慮到侵蝕及粘附的影響，測量規模的終值應與天線的尖端至少間隔100mm。