超聲波物位計和雷達物位計在現代工業(yè)物位測量中得到廣泛應用，超聲波物位計和雷達物位計通過天線發(fā)射出超聲波或電磁波，超聲波或電磁波經被測介質表面反射后，再由儀表天線接收，超聲波或電磁波從發(fā)射到接收的時間與到液面的距離成正比。
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超聲波物位計和雷達物位計測量狀態(tài)為只到在被測物位的反射波，沒有其他干擾波或干擾波極小。儀表在實際應用過程中被測介質狀態(tài)和環(huán)境狀態(tài)都存在一些測量影響因素，分析這些測量影響因素對儀表正確選型和提高測量精度有重要的意義。

一、環(huán)境因素對超聲波物位計和雷達物位計的影響

1、障礙物影響。

儀表發(fā)射的超聲波或電磁波碰到障礙物，就形成一個干擾波形。解決障礙物對超聲波物位計和雷達物位計測量影響直接的方法就是避開障礙物，如果無理想安裝位置可供選擇，則通過選擇波束發(fā)射角度小的儀表，或者采用導波管，或使用旁通管安裝等方式來解決解決問。

2、傳播介質影響

A、溫度

B、壓力

C、傳播介質的腐蝕性

D、傳播介質中是否含有蒸汽或粉塵等

E、環(huán)境中揮發(fā)物質的結晶問題或粉塵的粘附問題。

上述環(huán)境因素會造電磁波或超聲波到達被測料面時出現大的衰減，克服這些不利因素才能保證超聲波物位計和雷達物位計測量精度和穩(wěn)定性。

二、被測介質對對超聲波物位計和雷達物位計的影響

超聲波物位計和雷達物位計發(fā)出的超聲波或電磁波通過被測料面的反射，得到一個回波信號。回波信號強度與被測料面以下狀態(tài)相關：

1、被測介質介電常數或硬度

被測介質介電常數和硬度與電磁波反射回波強度成正比，介電常數和硬度越大，反射回波越強。

2、被測介質料面堆角

如果雷達物位計測量位置的物料堆角正好處于角落或高位，均會影響測量真實性。

3、被測料面的穩(wěn)定性。

4、被測物的顆粒度和疏松度。

5、被測介質的濕度。

關注以上測量影響因素，將超聲波物位計和雷達物位計使用現場中可能存在問題都考慮周全，才能選擇到適合的超聲波液位計和雷達物位計，保證儀表測量精度和測量準確性。